磁场测量方法以及磁场测量装置
- 专利权人:
- 精工爱普生株式会社
- 发明人:
- 长坂公夫,宫坂光敏
- 申请号：
- CN201510854441.2
- 公开号：
- CN105640552A
- 申请日:
- 2015.11.30
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及磁场测量方法以及磁场测量装置。在光泵浦式的磁场测量中，能够测量探测光是单方向且多个方向的磁场。在磁场测量装置(1)中，光源(18)对气室(12)向Z轴方向照射兼具泵浦光和探测光的直线偏振光，磁场产生器(8)对气室(12)，分别在X、Y轴方向施加作为取n个固定值fi(i＝1、…、n)的振幅A0的时间函数f(t)的磁场Ax、以及作为取m个固定值gj(j＝1、…、m)的振幅A0的时间函数g(t)的磁场Ay。运算控制部(30)使用人工磁场A的X、Y轴方向成分Ax、Ay以及与磁传感器(10)的测量值W-相当的自旋极化度Mx，来计算测量区域的磁场C(Cx、Cy、Cz)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
