PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce burdens of image inspection work by an image inspector.SOLUTION: The image inspection apparatus 30 acquires a key image in an inspection in the past under the same condition as the inspection in which DICOM images to be an image inspection object are generated from an image server 40. Then, the image inspection apparatus 30 compares incidental information incidental to the acquired key image with incidental information incidental to the DICOM images to be the image inspection object, and specifies the DICOM image corresponding to the acquired key image from the DICOM images to be the image inspection object. Then, the image inspection apparatus 30 displays the specified DICOM image on the first image inspection screen.COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT【課題】検像者による検像作業の負担を軽減する。【解決手段】検像装置30は、検像対象となるDICOM画像を生成した検査と同一条件の過去検査におけるキー画像を、画像サーバ40から取得する。そして、検像装置30は、当該取得したキー画像に付帯する付帯情報と、検像対象となるDICOM画像に付帯する付帯情報とを比較して、前記検像対象となるDICOM画像の中から前記取得したキー画像に対応するDICOM画像を特定する。そして、検像装置30は、当該特定したDICOM画像を最初の検像画面に表示させる。【選択図】図1
