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DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR RÉSONANCE MAGNÉTIQUE, PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR RÉSONANCE MAGNÉTIQUE, ET PROGRAMME DE CALCUL DE SUSCEPTIBILITÉ
专利权人:
LTD.;HITACHI, LTD.;株式会社日立製作所;HITACHI
发明人:
SATOH, Ryota,佐藤良太,SHIRAI, Toru,白猪亨,TANIGUCHI, Yo,谷口陽,BITO, Yoshitaka,尾藤良孝,OCHI, Hisaaki,越智久晃,SOTOME, Yoshihisa,五月女悦久
申请号:
JPJP2017/019381
公开号:
WO2017/204251A1
申请日:
2017.05.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention reduces a decline in precision caused by a signal loss and calculates susceptibility with high precision. To this end, by using magnetic resonance imaging (MRI), at least one echo on which non-uniformity of a spatial magnetic field is reflected is acquired, a complex image is calculated from the acquired echo, and three masks are calculated from the calculated complex image, the three masks including: a low signal area mask which represents a low signal area; a first high signal area mask which represents a high signal and large fat fraction area: and a second high signal area mask which represents a high signal and small fat fraction area. When a susceptibility image is constructed from a magnetic field image or a frequency image constructed from the complex image, the susceptibility image is calculated under a restriction that an area defined in the low signal area mask is taken as a background, and the susceptibility of the area defined in the second high signal area mask is taken as a pre-determined specific value.La présente invention réduit une baisse de précision causée par une perte de signal et calcule une susceptibilité avec une grande précision. À cet effet, en utilisant l'imagerie par résonance magnétique (IRM), au moins un écho sur lequel une non-uniformité d'un champ magnétique spatial est réfléchi est acquis, une image complexe est calculée à partir de l'écho acquis, et trois masques sont calculés à partir de l'image complexe calculée, les trois masques comprenant : un masque de zone de signal faible qui représente une zone de signal faible ; un premier masque de zone de signal élevé qui représente une zone de signal élevé et de fraction de graisse élevée ; et un deuxième masque de zone de signal élevé qui représente une zone de signal élevé et de fraction de graisse faible. Lorsqu'une image de susceptibilité est construite à partir d'une image de champ magnétique ou d'une image de fréquence construite à partir de l'image complex
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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