基于光纤表面等离子体共振的折射率温度双参数测量方法及装置
- 专利权人:
- 中国计量大学
- 发明人:
- 赵春柳,王雨,韩飞
- 申请号：
- CN201711141609.0
- 公开号：
- CN107894292A
- 申请日:
- 2017.11.17
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种基于光纤SPR原理的折射率温度双参数测量方法及装置，由宽带光源，上侧镀金膜的多模光纤‑细芯光纤‑多模光纤(MMF‑TCF‑MMF)结构和光谱仪构成。上侧镀金膜的MMF‑TCF‑MMF结构为传感区；由于TCF与MMF芯径失配，信号光进入TCF时会激发出包层模，部分高阶模将到达TCF与金膜的交界处，产生SPR效应；同时，激发出的低阶包层模，在TCF包层传输，重新进入MMF后与芯模发生干涉，形成多模的MZ干涉仪；通过标定SPR谱的能量变化和MZ干涉谷的位置，在这个小巧而紧凑的结构里,可同时得到待测折射率和环境温度，实现双参数测量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
