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多芯光纤有效折射率差的测量方法及其光谱数据获取装置
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 唐明,赵志勇,杨芳,韦会峰,童维军,付松年,沈平
- 申请号：
- CN201310069346.2
- 公开号：
- CN103196869A
- 申请日:
- 2013.03.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 刘丽君
- 摘要：
- 本发明公开了一种多芯光纤有效折射率差的测量方法及其光谱数据获取装置，通过获取经多芯光纤传输的光束产生的干涉图样所对应的光谱数据；对光谱数据进行傅里叶变换，获得空间频率谱一；对空间频率谱一进行滤波处理，获得空间频率谱二；对空间频率谱二进行傅里叶逆变换，获得正余弦函数波形；测量正余弦函数波形的自由光谱范围；并最终根据公式:
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计算所述多芯光纤有效折射率差；实现了多芯光纤纤芯-包层、纤芯-纤芯之间有效折射率差的测量与计算，操作非常简便，无需特殊高端复杂昂贵的测试仪器，所用到的测试工具也均为基本测量仪器，在普通的光学实验室内即可完成，具有快捷、简便、性价比高的特点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
