近红外二区荧光断层成像系统
- 专利权人:
- 中国科学院自动化研究所
- 发明人:
- 蔡美山,田捷,胡振华,张泽宇
- 申请号：
- CN201810908397.2
- 公开号：
- CN109044277B
- 申请日:
- 2018.08.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种近红外二区荧光断层成像系统，该系统包括：结构信息采集模块，结构信息采集模块发出X光子束，获取样本的空间结构图像；光源模块，光源模块发出白光和激光，照射样本后分别得到白光图像和荧光图像；光信息采集模块，光信息采集模块获取白光图像和荧光图像；以及中央控制模块，中央控制模块控制结构信息采集模块、光源模块和光信息采集模块，读取空间结构图像、白光图像和荧光图像，根据空间结构图像、白光图像和荧光图像得到样本的近红外二区荧光断层图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
