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一种自由空间下的荧光分子断层成像系统
专利权人:
天津工业大学
发明人:
王慧泉,冯杏,赵喆
申请号:
CN201821098352.5
公开号:
CN209847147U
申请日:
2018.10.07
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本实用新型提供一种自由空间下的荧光分子断层成像系统,包括激光器、电动快门、半透半反镜BS、透镜L1、透镜L2、光电二极管、滤光片F1、滤光片F2、二维激光扫描振镜、承载台、三维成像投影仪、EMCCD相机和计算机。本实用新型具有成像系统紧凑,使用方便等优点。本实用新型可通过控制采集数据量大小,利用重建算法,实现检查体的三维断层成像,准确定位荧光标记物位置和强度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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