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一种毫米波相控阵测试标定方法
- 专利权人:
- 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 发明人:
- 郑晓冬,申建华,易卿武,王晓玲,张磊,赵麟
- 申请号：
- CN201510979936.8
- 公开号：
- CN105606906A
- 申请日:
- 2015.12.24
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 王文庆
- 摘要：
- 本发明公开了一种毫米波相控阵测试标定方法，它涉及毫米波相控阵标定误差特性分析，尤其涉及相控阵天线的通道不一致性以及单元天线的相位中心偏移的计算方法，所述方法包括：一、根据测试得到的相控阵天线方向图，建立包含相控阵天线通道不一致，单元天线相位中心偏移量的相关函数；二、对优化目标参数进行值域空间分解；三、采用确定性方法对强空间谱分量对应的值域进行求解，采用遗传算法对弱空间谱分量对应的值域进行优化。本发明提出的毫米波相控阵测试标校方法，能够在少量测试工作的条件下，实现对相控阵指向精度的标校，测试工作量大幅减少，节省了人力、物力以及工作时间，而且不需要投入复杂且精密的平面扫描框架，降低了系统的复杂度以及投入成本。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
