SURFACE DEFECT MEASURING APPARATUS AND SURFACE DEFECT MEASURING SYSTEM
- 专利权人:
- 주식회사 포스코
- 发明人:
- 김현수
- 申请号：
- KR20150102485
- 公开号：
- KR101726057(B1)
- 申请日:
- 2015.07.20
- 申请国别(地区):
- 韩国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 본 발명의 일 실시 형태에 따른 표면결함 계측장치는, 대상체의 표면에 각각 서로 다른 파장의 광을 조사하고, 상기 표면에서 반사된 광을 감지하는 제1 측정 모듈과 제2 측정 모듈을 포함하는 측정부; 및 상기 측정부의 작동을 제어하고, 상기 측정부로부터 전송되는 신호를 수신하여 표면결함을 검출하는 검출부;를 포함할 수 있다.
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
