Erfindungsgemäß umfasst eine Lichtquelleneinheit für ein Operationsmikroskop (140), eine Laserlichtquelle (101), ein erstes streuendes Element SE1 (106), das eine erste Ebene (107) definiert, ein zweites streuende Element SE2 (112), das eine zweite Ebene (113) definiert, eine zwischen dem ersten streuenden Element SE1 (106) und dem zweiten streuenden Element SE2 (112) angeordnete Kollektoroptik OS1 (110) mit einer ersten Brennweite f und einem ersten Brennpunkt P1. Der erste Brennpunkt P1 der Kollektoroptik OS1 (110) liegt in der ersten Ebene (107) auf dem ersten streuenden Element SE1 (106). Das von der Laserlichtquelle (101) abgestrahlte Laserlicht (103) ist in der ersten Ebene (107) auf dem ersten streuenden Element SE1 (106) auf einen ersten Strahlquerschnitt (108) mit einer ersten Abmessung L1 fokussiert. Das von dem ersten streuenden Element SE1 (106) ausgehende gestreute Strahlenbündel (109) mit der ersten numerischen Apertur NA(SE1) ist durch die Kollektoroptik OS1 (110) nach unendlich abgebildet und erzeugt in der zweiten Ebene (113) auf dem zweiten streuenden Element SE2 (112) einen zweiten Strahlquerschnitt mit einer zweiten Abmessung L2. Das zweite streuende Element SE2 (112) strahlt an jeder Stelle im Strahlquerschnitt in der zweiten Ebene (113) jeweils ein Bündel Beleuchtungslicht (115) mit einer zweiten numerischen Apertur NA(SE2) ab, wobei das von dem zweiten streuenden Element SE2 (112) ausgehende Beleuchtungslicht (115) ein erstes Leuchtfeld (114) bildet. Das erste Leuchtfeld (114) ist durch eine Beleuchtungsoptik in eine Objektebene (150) abbildbar.According to the invention, a light source unit for an operating microscope (140), a laser light source (101), a first scattering element SE1 (106) that defines a first plane (107), a second scattering element SE2 (112) that comprises a second plane (113 ) defines a collector optics OS1 (110) arranged between the first scattering element SE1 (106) and the second scattering element SE2 (112) with a first
