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PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE PARAMÈTRES GÉOMÉTRIQUES POUR SYSTÈME DE TOMODENSITOMÉTRIE À FAISCEAU CONIQUE
专利权人:
广州华端科技有限公司;GUANGZHOU HUADUAN TECHNOLOGY CO.;GUANGZHOU HUADUAN TECHNOLOGY CO., LTD.; LTD.
发明人:
LI, Hanwei,李翰威,QI, Hongliang,齐宏亮,LUO, Yibin,骆毅斌,WU, Shuyu,吴书裕,ZHAN, Xinzhi,詹欣智,HUANG, Wenji,黄文记
申请号:
CNCN2017/086851
公开号:
WO2018/218611A1
申请日:
2017.06.01
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
The invention provides a geometric parameter determination method for a cone beam computed tomography system. The method comprises: obtaining first projection data when a CBCT system detector is in an unbiased state and second projection data when the CBCT system detector moves horizontally to a set bias state, respectively under the condition that the CBCT system detector is in an unbiased state and the CBCT system detector is horizontally moved to the set bias state (S10); obtaining a projection data set A in the first projection data, calculating a center point coordinate of the projection data set A, acquiring a projection data set B in the second projection data, and calculating a center point coordinate of the projection data set B (S20); determining estimated coordinates of a projection of a sphere center of each small ball markers in a CBCT geometric parameter correction device and an objective function of the CBCT geometric parameter correction device, according to the center point coordinates of the projection data set A, the center point coordinates of the projection data set B, and the correspondence between the projection data set A and the projection data set B (S30); and calculating the estimated coordinates when the objective function takes the minimum value to obtain an optimized estimate, and determining geometric parameters of the CBCT system during the sampling process on the basis of the optimized estimates (S40).L'invention concerne un procédé de détermination de paramètre géométrique pour un système de tomodensitométrie à faisceau conique. Le procédé consiste à : obtenir des premières données de projection lorsqu'un détecteur de système CBCT est dans un état non polarisé et des secondes données de projection lorsque le détecteur de système CBCT se déplace horizontalement jusqu'à un état de polarisation défini, respectivement dans la condition selon laquelle le détecteur de système CBCT est dans un état non polarisé et le détecteur de système C
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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