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甚短基线光学测量目标定位方法
专利权人:
中国西安卫星测控中心
发明人:
柴敏,宋卫红,王敏,余慧,王家松
申请号:
CN201410389775.2
公开号:
CN104199024A
申请日:
2014.08.11
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
吕湘连
摘要:
本发明公开了一种甚短基线光学测量目标定位方法,属于航天测量与控制领域。该方法依次进行目标定位计算,速度分量计算和精度计算。依据全微分公式,根据测站站址差计算出测量元素,建立基于全微分方程的雷达-光电经纬仪联合定位模型,将经纬仪的高精度测角信息和雷达的高精度测距信息进行数据融合,确定飞行目标的空间位置。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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