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SYSTÈME DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE DÉTECTION, ET DISPOSITIF DE DÉTECTION
专利权人:
ソニー株式会社;SONY CORPORATION
发明人:
TAKASHIMA Masatoshi,高嶋昌利
申请号:
JPJP2017/021607
公开号:
WO2017/221756A1
申请日:
2017.06.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention relates to a sensing system, sensing method, and sensing device that make more accurate measurement possible. In this sensing system, a plurality of reference reflection areas having reflectances corresponding to an object to be inspected are prepared for each wavelength band to be sensed for the object to be inspected. When sensing is carried out for an area including the object to be inspected and the reference reflection areas, for each wavelength band to be sensed for the object to be inspected, sensing is carried out for a reference reflection area having a reflectance corresponding to that of the object to be inspected. This invention can be applied to, for example, a system for measuring a vegetation index such as the normalized difference vegetation index (NDVI).La présente invention concerne un système de détection, un procédé de détection et un dispositif de détection qui permettent de réaliser une mesure plus précise. Dans ce système de détection, une pluralité de zones de réflexion de référence ayant des réflectances correspondant à un objet à inspecter sont préparées pour chaque bande de longueur d'onde devant être détectée pour l'objet à inspecter. Lorsqu'une détection est effectuée pour une zone comprenant l'objet à inspecter et les zones de réflexion de référence, pour chaque bande de longueur d'onde à détecter pour l'objet à inspecter, la détection est effectuée pour une zone de réflexion de référence ayant un facteur de réflexion correspondant à celui de l'objet à inspecter. Cette invention peut être appliquée, par exemple, à un système de mesure d'un indice de végétation tel que l'indice différentiel normalisé de végétation (NDVI).本技術は、より精度の高い測定を行うことができるようにするセンシングシステム、センシング方法、及び、センシング装置に関する。 センシングシステムは、基準反射領域として、検査対象物に対するセンシングの対象となる波長帯ごとに、当該検査対象物に対応した反射率を有する基準反射領域が複数用意され、検査対象物を含む領域と基準反射領域とをセンシングする際に、検査対象物のセンシングの対象となる波長帯ごとに、当該検査対象物に対応した反射率を有する基準反射領域をセンシングする。本技術は、例えば、正規化植生指数(NDVI)等の植生指数を測定するためのシステムに適用することができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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