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光子検出素子、光子検出装置、及び放射線分析装置
专利权人:
TOSHIBA CORP
发明人:
KIMURA SHUNSUKE,木村 俊介,OTA HIROSHI,太田 寛,KAWADA GO,河田 剛,FUNAKI HIDEYUKI,舟木 英之,HASEGAWA TSUTOMU,長谷川 励
申请号:
JP2014191577
公开号:
JP2016061729A
申请日:
2014.09.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photon detection element, photon detection device and radiation analysis device that easily compensate the temperature characteristics of a multiplication factor of an avalanche photodiode.SOLUTION: A photon detection element according to an embodiment has: one or more avalanche photodiodes and a non-linear circuit that is connected between a cathod of the avalanche photodiode abd an external power source. In the non-linear circuit, a second temperature coefficient indicative of a variation of set potential with respect to a temperature change when a constant current is driven so that potential of the cathod is the set potential is configured to be almost identical with respect to a first temperature coefficient indicative of a variation with respect to a temperature change in break-down voltage of the avalanche photodiode.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】アバランシェフォトダイオードの増倍率の温度特性を容易に補償することができる光子検出素子、光子検出装置、及び放射線分析装置を提供することである。【解決手段】実施形態の光子検出素子は、1つ以上のアバランシェフォトダイオードと、アバランシェフォトダイオードのカソードと外部の電源との間に接続される非線形回路とを有する。非線形回路は、アバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧の温度変化に対する変動を示す第1温度係数に対し、カソードの電位が設定電位となるように定電流駆動された場合の温度変化に対する設定電位の変動を示す第2温度係数が略同じにされている。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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