TOSHIBA CORP;東芝メディカルシステムズ株式会社;TOSHIBA MEDICAL SYSTEMS CORP;株式会社東芝
发明人:
ISHIYAMA FUMIO,石山 文雄,HIROHATA KENJI,廣畑 賢治
申请号：
JP2012199659
公开号：
JP2014056668A
申请日:
2012.09.11
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要：
PROBLEM TO BE SOLVED: To estimate the life of a power device of an X-ray high voltage apparatus in a medical image diagnostic apparatus.SOLUTION: An X-ray CT apparatus 1A as a medical image diagnostic apparatus 1 includes: a power device； a temperature sensor； a sensor temperature change conversion unit 267a for obtaining data of a temperature change that indicates plural time-series temperatures obtained by the temperature sensor； a wave number counting unit 267b for performing transform processing based on a physical model of the power device to calculate data of a temperature change after the transformation on the basis of the temperature change, and for calculating a cycle count of each of plural temperature amplitudes using a wave number counting method with the temperature change after the transformation being as an amplitude； an accumulated damage value computing unit 267c for calculating an accumulated damage value on the basis of the plural temperature amplitudes and the cycle count corresponding to each of the plural temperature amplitudes； and an estimated time computing unit 267d for calculating estimated time taken until failure of the power device on the basis of the accumulated damage value.【課題】医用画像診断装置において、Ｘ線高電圧装置のパワーデバイス寿命を予測すること。【解決手段】医用画像診断装置１としてのＸ線ＣＴ装置１Ａは、パワーデバイスと、温度センサと、温度センサにより得られた時系列に複数の温度である温度変化のデータを取得するセンサ温度変化変換部２６７ａと、温度変化に基づいて、パワーデバイスの物理モデルに基づく変換処理を行なって変換後の温度変化のデータを算出し、変換後の温度変化を振幅とする波数計数法を用いて複数の温度振幅の各温度振幅についてサイクルカウントを算出する波数計数部２６７ｂと、複数の温度振幅と、前記複数の温度振幅にそれぞれ対応するサイクルカウントとに基づいて、累積損傷値を算出する累積損傷値演算部２６７ｃと、累積損傷値に基づいて、パワーデバイスの故障までの予測時間を算出する予測時間演算部２６７ｄと、を有する。【選択図】 図５
