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位相検出型X線撮影装置
专利权人:
HITACHI LTD
发明人:
NAGATA KOJI,永田 浩司,OKABE MASAKAZU,岡部 正和
申请号:
JP2015138454
公开号:
JP2017018324A
申请日:
2015.07.10
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a phase detection type X-ray machine capable of generating a phase contrast image on a real-time basis.SOLUTION: A phase detection type X-ray machine relating to the invention comprises: an X-ray source that generates an X-ray to be emitted to a subject a first diffraction grating that converts the X-ray into a coherent X-ray a second diffraction grating that forms an X-ray intensity distribution from an X-ray phase change caused when the coherent X-ray penetrates the subject a third diffraction grating that causes Moire in the X-ray intensity distribution by partly shading the X-ray intensity distribution a first Fresnel lens that converts the X-ray intensity distribution into a frequency distribution a frequency band selection part that has an aperture for selectively allowing penetration of a specific frequency band in the frequency distribution a second Fresnel lens that converts a specific frequency distribution with the penetration of the specific frequency band allowed into the X-ray intensity distribution a detector that detects the converted X-ray intensity distribution and an image processing part that uses the X-ray intensity distribution detected by the detector to generate an X-ray image.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】 リアルタイムに位相コントラスト画像を生成する事のできる位相検出型X線撮影装置を提供する。【解決手段】 本発明に係る位相検出型X線撮影装置は、被検体に照射するX線を発生するX線源と、X線を同位相X線に変換する第1の回折格子と、同位相X線が被検体を透過することによるX線の位相変化からX線の強度分布を形成する第2の回折格子と、X線の強度分布の一部を遮光することによりX線の強度分布にモアレを生じさせる第3の回折格子と、X線の強度分布を周波数分布に変換する第1のフレネルレンズと、周波数分布における特定の周波数帯域を選択的に透過させる開口部を有する周波数帯域選択部と、特定の周波数帯域を透過させた特定周波数分布をX線の強度分布に変換する第2のフレネルレンズと、変換されたX線の強度分布を検出する検出器と、検出器により検出されたX線の強度分布を用いてX線画像を生成する画像処理部と、を備えることを特徴とする。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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