一种测量植物叶片滞留颗粒物的粒径分布的方法

• 收藏
• 分享

专利权人:

北京林业大学

发明人:

席本野,刘欢欢,曹治国,贾黎明,张少伟,刘金强

申请号：

CN201610652047.5

公开号：

CN106018208A

申请日:

2016.08.10

申请国别(地区):

中国

年份:

2016

代理人:

严勇刚

摘要：

本发明提供了一种测量植物叶片滞留颗粒物的粒径分布的方法，用于通过环境扫描电镜测量植物叶片滞留颗粒物的粒径分布，所述方法首先将植物叶片粘贴到一个第一基板上，然而通过单面胶带将植物叶片上的滞留颗粒物位置不变的粘下来与植物叶片相互脱离，之后将单面胶带粘贴到一个第二基板上，最后利用环境扫描电镜测量植物叶片滞留颗粒物的粒径分布。本发明的上述方法可以通过单面胶带使滞留颗粒物与植物叶片分离，避免了植物叶片本身的微形态结构与滞留颗粒物难以区分造成干扰导致测量不准的缺陷。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/