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PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND IRRADIATION PLANNING DEVICE
专利权人:
HITACHI LTD;株式会社日立製作所;HOKKAIDO UNIV;国立大学法人北海道大学
发明人:
UMEGAKI KIKUO,梅垣 菊男,FUJII YUSUKE,藤井 祐介,FUJIMOTO RINTARO,藤本 林太郎,MIYAMOTO NAOKI,宮本 直樹,HIRAYAMA KOSUKE,平山 嵩祐,SHIMIZU SHINICHI,清水 伸一
申请号:
JP2018028532
公开号:
JP2019141331A
申请日:
2018.02.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To provide a particle beam irradiation system by a scanning irradiation method, capable of forming a radiation dose distribution as planned, and allowing for shortening of an irradiation time compared to a conventional method.SOLUTION: The particle beam irradiation system comprises: target monitoring devices 35,36 measuring a position of a target 26; and a control system 7. The control system 7 performs: such a tracking irradiation that an exciting current value of scanning electromagnets 31,32 is corrected on the basis of a signal from the target monitoring devices; and such a gate irradiation that depth of the target 26 is calculated on the basis of a signal from the target monitoring devices, and the target 26 is irradiated with charged particle beams when the depth of the target 26 is in a previously set depth permission range. The control system 7 performs the tracking irradiation when the depth of the target 26 measured by the target monitoring devices falls within in a depth permission range.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】計画通りの線量分布を形成することができ、かつ従来の手法に比べて照射時間を短縮することが可能な、スキャニング照射法による粒子線照射システムを提供する。【解決手段】標的26の位置を計測する標的監視装置35,36と、標的監視装置からの信号に基づき走査電磁石31,32の励磁電流値を補正して荷電粒子ビームを標的26に照射する追尾照射、および標的監視装置からの信号に基づき標的26の深さを演算し、標的26の深さが予め定めた深さ許可範囲内にあるとき荷電粒子ビームを照射するゲート照射を行う制御システム7と、を備え、制御システム7は、標的監視装置によって計測した標的26の深さが深さ許可範囲内にあるときに追尾照射を行う。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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