An x-ray interferometric imaging system in which the x-ray source comprises a target having a plurality of structured coherent sub-sources of x-rays embedded in a thermally conducting substrate. The system additionally comprises a beam-splitting grating G1 that establishes a Talbot interference pattern, which may be a phase-shifting grating, and an x-ray detector to convert two-dimensional x-ray intensities into electronic signals. The system may also comprise a second analyzer grating G2 that may be placed in front of the detector to form additional interference fringes, a means to translate the second grating G2 relative to the detector. The system may additionally comprise an antiscattering grid to reduce signals from scattered x-rays. Various configurations of dark-field and bright-field detectors are also disclosed.La présente invention concerne un système d'imagerie interférométrique à rayons X, dans lequel la source de rayons X comprend une cible ayant une pluralité de sous-sources cohérentes structurées de rayons X qui sont intégrées dans un substrat thermiquement conducteur. Le système comprend une grille G1 de division de faisceau qui établit un modèle d'interférences de Talbot, qui peut être une grille de déphasage, et un détecteur de rayons X pour convertir des intensités bidimensionnelles de rayons X en signaux électroniques. Le système peut également comprendre une seconde grille d'analyseur G2 qui peut être placée devant le détecteur pour former des franges d'interférences supplémentaires, et un moyen pour déplacer en translation la seconde grille G2 par rapport au détecteur. En outre, ledit système peut comprendre une grille anti-diffusion pour réduire les signaux provenant de rayons X diffusés. La présente invention concerne également diverses configurations de détecteurs de champ sombre et de champ clair.
