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MULTILAYER CONDUCTIVE PROBE
专利权人:
LIN; CHIU-RUEY
发明人:
LIN, CHIU RUEY,林启瑞,林啟瑞,LIU, MOU CHUAN,刘茂全,劉茂全,KUO, WEI YUAN,郭为元,郭為元,CHEN, WILL LIAM,陈伟恩,陳偉恩,LIN, MING HONG,林明宏,林明宏
申请号:
TW102219230
公开号:
TWM477275U
申请日:
2013.10.16
申请国别(地区):
TW
年份:
2014
代理人:
摘要:
A multilayer conductive probe comprising: a conductive pin, having two ends, one end forming a needle a first insulating film formed on the conductive pin, and expose the needle of the conductive pin and a first conductive film is formed on the first insulating film, the first conductive film having a front end whereby when the conductive pin and the first conductive film is connected, a closed circuit is formed between the needle of the conductive pin and the front end of the first conductive film for signal detection or stimulating the meridian.一種多層導電探針,包括:一導電針,具有兩端,其中一端形成一針頭;一第一絕緣薄膜形成於該導電針上,並露出該導電針之該針頭;以及一第一導電薄膜形成於該第一絕緣薄膜上,該第一導電薄膜具有一前端;藉此,當該導電針與該第一導電薄膜通電後,該導電針之該針頭與該第一導電薄膜之該前端間形成一通路,以供進行訊號偵測或刺激經絡。1A‧‧‧多層導電探針10‧‧‧導電針101‧‧‧針頭102‧‧‧針柄11‧‧‧第一絕緣薄膜12‧‧‧第一導電薄膜121‧‧‧前端
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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