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シワ状態分析方法及びシワ状態分析装置
专利权人:
KAO CORP
发明人:
IGARASHI TAKANORI,五十嵐 崇訓
申请号:
JP2013198668
公开号:
JP2015062569A
申请日:
2013.09.25
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology for precisely quantifying a wrinkle state of a skin based on a skin image.SOLUTION: A wrinkle state-analyzing method includes: an image acquiring step S21 for acquiring a skin brightness image at a target analysis portion a line detection step S22 which, from the skin brightness image acquired in the image acquiring step, extracts a linear texture image at each of a plurality of predetermined angles an intensity extracting step S23 which, from each linear texture image extracted in the line detection step, extracts a line component intensity at each of predetermined angles and an information generation step S24 which, by using each line component intensity extracted in the intensity extracting step, generates wrinkle state information of the skin at the target analysis portion.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】肌画像に基づいて肌のシワ状態を高精度に定量化する技術を提供する。【解決手段】シワ状態分析方法は、分析対象部位の肌輝度画像を取得する画像取得工程S21と、画像取得工程で取得された肌輝度画像から、複数の所定角度の各々についての線状テクスチャ画像をそれぞれ抽出する線検出工程S22と、線検出工程で抽出された各線状テクスチャ画像から、各所定角度の線形成分強度をそれぞれ抽出する強度抽出工程S23と、強度抽出工程で抽出された各線形成分強度を用いて、分析対象部位の肌のシワ状態情報を生成する情報生成工程S24と、を含む。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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