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一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法
- 专利权人:
- 天津大学
- 发明人:
- 王超,高鹏,李藩为
- 申请号：
- CN201310081212.2
- 公开号：
- CN103163216A
- 申请日:
- 2013.03.14
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 程毓英
- 摘要：
- 本发明属于无损检测技术领域，涉及一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法，该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体，巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部，永磁体固定于激励线圈的外侧，包括：将检测探头放置于被测试件表面，对激励线圈施加正弦信号，移动检测探头对被测试件进行扫描；对巨磁电阻传感器的输出信号进行解调，得到幅值和相角信息；记录检测探头扫描过程中的位置；分别绘制幅值随探头位置变化的曲线和相角随探头位置变化的曲线；对扫描位置是否存在缺陷进行判断；估计缺陷的位置及大小。本发明具有操作简单，响应速度快，实时性好，同时具有判断和估计准确，易于实施等优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
