一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法
- 专利权人:
- 天津大学
- 发明人:
- 王超,高鹏,李藩为
- 申请号：
- CN201310080880.3
- 公开号：
- CN103163211A
- 申请日:
- 2013.03.14
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 程毓英
- 摘要：
- 本发明属于无损检测技术领域，涉及一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法，该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体，巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部，永磁体固定于激励线圈的外侧，方法为：将检测探头放置于被测试件表面，对激励线圈施加正弦信号，移动检测探头对被测试件进行扫描；对巨磁电阻传感器的输出信号进行滤波和放大处理；对经过滤波和放大处理的巨磁电阻传感器的输出信号进行解调，获得实部和虚部，得到幅值和相角信息；根据幅值和相角信息对扫描位置是否存在缺陷及缺陷类型进行判断。本发明可以直接快速对缺陷进行分类辨别，特征量明显，辨识准确。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
