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粒子線照射システムおよびその制御方法
专利权人:
株式会社日立製作所
发明人:
大内 紀明,森山 國夫,松田 浩二
申请号:
JP2007084533
公开号:
JP4864787B2
申请日:
2007.03.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle beam radiation system and its control method, which are capable of accurately detecting and evaluating actual exposure dose in a therapy using charged particle beams by appropriately executing a beam emission in abnormal conditions during spot irradiation.SOLUTION: This particle beam radiation system includes a synchrotron 12, and a scanning radiation device 15 having scanning electromagnets 5A and 5B and scanning ion beams emitted from the synchrotron 12, wherein the emission of ion beams from the synchrotron 12 is stopped based on a beam emission stop command, the radiation position of the ion beams is changed by controlling the scanning electromagnets 5A and 5B in that state, and after the change, the emission of the ion beams from the synchrotron 12 is started. When a relatively slight abnormal condition capable of continuing the radiation occurs during the radiation with the beams, this system does not immediately stops the beam emission, but when the radiation of the radiated position at that time reaches a target dose value, the beam emission is stopped.COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT【課題】スポット照射中における異常発生時のビーム出射処理を適切に行うことにより、荷電粒子ビームを用いた治療における実照射線量の検出および評価を正確に行うことができる粒子線照システムおよびその制御方法を提供する。【解決手段】シンクロトロン12と、走査電磁石5A,5Bを有し、シンクロトロン12から出射されたイオンビームを走査するスキャニング照射装置15と、シンクロトロン12からのイオンビームの出射をビーム出射停止指令に基づいて停止させ、この状態で走査電磁石5A,5Bを制御することによりイオンビームの照射位置を変更させ、この変更後にシンクロトロン12からのイオンビームの出射を開始させる。ビームの照射中に、照射継続可能な比較的軽度な異常が発生した場合に、直ちにビーム出射を停止せず、その時点での照射位置に対する照射が目標線量値に到達した時点で、ビーム出射を停止する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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