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磁場計測装置および磁場計測方法
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
MIYASAKA MITSUTOSHI,宮坂 光敏,SAITO TOSHIHIRO,齋藤 敏廣,DEGUCHI AKIHIRO,出口 明広,HOKARI RYUJI,保刈 龍治
申请号:
JP2015116409
公开号:
JP2017000354A
申请日:
2015.06.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic field measurement device that can accurately detect the distribution of magnetic vectors of a subject without being affected by the shape of the subjects body.SOLUTION: A magnetic field measurement device comprises: a magnetic sensor 4 that detects a magnetic field from a subject 6 a table 3 on which the subject 6 is placed a shape measurement device 5 that measures a surface shape of the subject 6 an average plane calculation unit that calculates an average plane of the surface shape and a control unit that controls the table 3 so that an opposed surface of the magnetic sensor 4 becomes parallel to the average plane.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】被検体の体型の影響を受けずに、被検体の磁気ベクトルの分布を精度良く検出できる磁場計測装置を提供する。【解決手段】被検体6からの磁場を検出する磁気センサー4と、被検体6が設置されるテーブル3と、被検体6の表面形状を測定する形状測定装置5と、表面形状の平均平面を演算する平均平面演算部と、磁気センサー4の対向面と平均平面とが平行になるようにテーブル3を制御する制御部と、を備える。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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