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磁場計測装置及び磁場計測方法
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
NAGASAKA KIMIO,長坂 公夫
申请号:
JP2016081356
公开号:
JP2017191040A
申请日:
2016.04.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic field measurement device capable of measuring even a weak magnetic field with sufficient accuracy.SOLUTION: A magnetic field measurement device includes: at least one first magnetometric sensor that measures a magnetic field including a magnetic field of a measurement object and a circumstance magnetic field a plurality of second magnetometric sensors for measuring the circumstance magnetic field and a magnetic field calculation part that estimates the distribution of the circumstance magnetic field based on the measured values of the plurality of second magnetometric sensors, and calculates the magnetic field of the measurement object based on a measured value of the first magnetometric sensor and the estimated distribution of the circumstance magnetic field.SELECTED DRAWING: Figure 4COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】微弱な磁場であっても十分な精度で計測することが可能な磁場計測装置を提供すること。【解決手段】計測対象の磁場と環境磁場とを含む磁場を計測する少なくとも1つの第1磁気センサーと、前記環境磁場を計測する複数の第2磁気センサーと、前記第2磁気センサーの計測値に基づいて前記環境磁場の分布を推定し、前記第1磁気センサーの計測値と推定した前記環境磁場の分布とに基づいて、前記計測対象の磁場を計算する磁場計算部と、を含む、磁場計測装置。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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