A thickness analyzer unit for determining a thickness of a layer includes a temperature change device, a temperature sensor, a memory, and a controller. The temperature change device is configured to induce a temperature change of the layer from a first temperature value to a second temperature value. The temperature sensor is configured to generate first temperature data corresponding to the first temperature value and second temperature data corresponding to the second temperature value. The memory is configured to store the first and second temperature values, a thermal conductivity value, a specific thermal capacity value, and a density value. The controller is configured (i) to determine a time constant value of the layer based on the first and second temperature values, and (ii) to determine the thickness of the layer based on the time constant, the thermal conductivity value, the specific thermal capacity value, and the density value.L'invention concerne une unité d'analyseur d'épaisseur pour déterminer une épaisseur d'une couche, qui comprend un dispositif de changement de température, un capteur de température, une mémoire et un dispositif de commande. Le dispositif de changement de température est configuré pour induire un changement de température de la couche d'une première valeur de température à une seconde valeur de température. Le capteur de température est configuré pour générer des premières données de température correspondant à la première valeur de température et des secondes données de température correspondant à la seconde valeur de température. La mémoire est configurée pour stocker les première et seconde valeurs de température, une valeur de conductivité thermique, une valeur de capacité thermique spécifique et une valeur de densité. Le dispositif de commande est configuré pour (i) déterminer une valeur de constante de temps de la couche sur la base des première et seconde valeurs de température, et (ii) déterminer l'épaisseur de la couche
