您的位置：
首页
>
农业专利
>
详情页
温度センサ、その校正方法、半導体装置
- 专利权人:
- ローム株式会社
- 发明人:
- 坂野 佳久
- 申请号：
- JP20150118304
- 公开号：
- JP2017003457(A)
- 申请日:
- 2015.06.11
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】その誤差を測定可能な温度センサを提供する。【解決手段】電圧生成部１１０は、制御ビットｂ１に応じて、ＣＴＡＴ特性を有する第１電圧ＶｆとＰＴＡＴ特性を有する第２電圧ΔＶｆを切りかえて生成する。積分回路１２０は、制御ビットｂ２に応じて、それ自身の入力電圧に第１係数αを乗算した値を積算し、または、それ自身の入力電圧に第２係数βを乗算した値を積算する。量子化器１３０は、積分回路１２０の出力を量子化し、ビットストリームｂｓを生成する。パターン発生器１４０は、所定のデューティ比を有するテスト信号ｔｓを生成する。減算回路１５０は、ビットストリームｂｓに応じて、電圧生成部１１０の出力電圧から校正用の基準電圧ＶＥＸＴを減算する。校正モードにおいて、テスト信号ｔｓが制御ビットｂ１、ｂ２とし
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
