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散乱線補正装置、散乱線補正方法、及びX線撮影装置
专利权人:
ASAHI ROENTGEN KOGYO KK
发明人:
MASAOKA KIYOSHI,正岡 聖
申请号:
JP2013200203
公开号:
JP2015065991A
申请日:
2013.09.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scattered radiation correction device capable of directly leading out an image obtained by reducing a scattered radiation component from an image obtained by X-ray imaging, while having short calculation time.SOLUTION: A scattered radiation correction device according to this invention performs scattered radiation correction on a measurement image obtained by X-ray imaging. The scattered radiation correction device includes: a normalized ideal value calculation unit for calculating a normalized ideal value, which is a normalized luminance value obtained by the whole X-ray, for each pixel in a measurement image a scattered radiation component calculation unit for calculating a scattered radiation component of the measurement image for each pixel in the measurement image from the normalized ideal value and a normalized luminance value of the measurement image and correction processing for removing the scattered radiation component calculated by the scattered radiation component calculation processing from a luminance value of each pixel in the measurement image, for each pixel in the measurement image.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】X線撮影で得られる画像から散乱線成分を低減した画像を直接的に導出することができるとともに、計算時間が短い散散乱線補正装置を提供する。【解決手段】本発明に係る散乱線補正装置は、X線撮影で得られる測定画像に対して散乱線補正を行う。また、本発明に係る散乱線補正装置は、正規化された全X線による輝度値である正規化理想値を前記測定画像の各ピクセルについて算出する正規化理想値算出部と、前記測定画像のピクセル毎に、前記正規化理想値と、正規化された前記測定画像の輝度値とから、前記測定画像の散乱線成分を算出する散乱線成分算出部と、前記測定画像のピクセル毎に、前記測定画像のピクセルの輝度値から、前記散乱線成分算出処理で算出した散乱線成分を除去する補正処理とを備える。【選択図】図9
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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