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一种基于标准CMOS工艺双光电探测器的建模方法
专利权人:
天津大学
发明人:
谢生,罗学涛,毛陆虹
申请号:
CN201611025877.1
公开号:
CN106529059A
申请日:
2016.11.18
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
李林娟
摘要:
本发明公开了一种基于标准CMOS工艺双光电探测器的建模方法,所述建模方法基于遗传算法,所述建模方法包括以下步骤:在一定辐射强度的光功率和反向偏置电压下,对双光电探测器的散射参数进行测量;在考虑器件光生载流子输运时间及物理结构的基础上,建立等效电路模型,并基于遗传算法提取其模型参数;将等效电路的散射参数特性曲线与实际测试数据进行比对,验证模型的精确性。本发明采用遗传算法对光电探测器的S21和S22散射参数进行拟合,基于评价函数提取模型参数,使其能够准确地反映实际双光电探测器的特性。本发明所述建模方法不需要大量的测试数据,可有效降低不精确测试数据带来的误差,保证所建模型的精确度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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