An imaging system for an optical element, the imaging system comprising means for illuminating a targeted optical element with at least one incident light beam and means for directing at least two light beams returning from at least one surface of the illuminated optical element onto a detector the detector adapted to measure relative light characteristics of the at least two returning light beams and to calculate at least one parameter of the optical element using the measured characteristics of the at least two returning light beams.Linvention concerne un système dimagerie pour un élément optique. Ledit système dimagerie comprend des moyens pour éclairer un élément optique ciblé avec au moins un faisceau lumineux incident, et des moyens pour diriger au moins deux faisceaux lumineux revenant dau moins une surface de lélément optique éclairé sur un détecteur. Le détecteur est adapté pour mesurer les caractéristiques lumineuses relatives desdits au moins deux faisceaux lumineux de retour et calculer au moins un paramètre de lélément optique en utilisant les caractéristiques mesurées de ces deux faisceaux.
