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近红外脑功能测量装置及测量方法
- 专利权人:
- 国立研究开发法人产业技术综合研究所
- 发明人:
- 山田亨,梅山伸二
- 申请号：
- CN201680009588.4
- 公开号：
- CN107205732B
- 申请日:
- 2016.10.02
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 提供检测器噪音平均化简单的多通道近红外脑功能测量装置。预先将所有光衰减器的透过率设定为1,将所有光源强度设定为可安全地照射的最大光量,求出各光源探测器i的有效入射光量和其中最小的有效入射光量及最大的有效入射光量;通过将光源探测器侧的光衰减器i的透过率ai变更为[最小的有效入射光量/光源探测器i的有效入射光量]而使有效入射光量平均化,进而,将所有光源强度变更为W=[最大的有效入射光量/最小的有效入射效率]倍,求出检测器探测器j的有效检测效率和其中最小的有效检测效率;以通过将检测器探测器侧的光衰减器j的透过率aj变更为[最小的有效检测效率/检测器探测器j的有效检测效率]而事先使有效检测效率平均化的方式进行控制,使所有通道k间的检测器噪音平均化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
