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脑功能测量装置和脑功能测量方法
- 专利权人:
- 国立研究开发法人产业技术综合研究所
- 发明人:
- 山田亨
- 申请号：
- CN201880024648.9
- 公开号：
- CN110520057A
- 申请日:
- 2018.28.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法,能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题,提供一种脑功能测量装置,具备:第一光照射探头(S1),向被检体的脑照射光;第一光检测探头(D1),与第一光照射探头(S1)相邻设置,对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测;第二光照射探头(S2),与第一光检测探头(D1)相邻设置,向被检体的脑照射光;第二光检测探头(D2),与第二光照射探头(S2)相邻设置,对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测;以及控制部(3),对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节,以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值,并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节,以对第二光照射探头(S2)与第二光检测探头(D2)之间的通道所测量到的光量达到上述观测值。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
