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DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'IMAGE, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'IMAGE ET PROGRAMME
专利权人:
ソニー株式会社;SONY CORPORATION
发明人:
SATO, Yoichiro,佐藤洋一郎
申请号:
JPJP2020/002536
公开号:
WO2020/179276A1
申请日:
2020.01.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Provided are a device and a method capable of calculating an NDVI value in which an error due to a change in the sunlight incident/reflection angle is reduced. The present invention has a data processing unit which receives a camera-captured image and calculates an NDVI value indicating the activity of a plant by analyzing the input image. The data processing unit selects a plurality of sampling points from the constituent pixels of the input image, calculates a sampling point two-dimensional distribution approximation model formula by approximating the two-dimensional distribution of the NDVI value of the selected sampling point and the sunlight incident/reflection angle, generates, on the basis of the calculated sampling point two-dimensional distribution approximate model formula, a corrected NDVI value calculation formula for calculating a corrected NDVI value in which a change in the NDVI value due to a change in the sunlight incident/reflection angle is reduced, and calculates a corrected NDVI value, according to the generated corrected NDVI value calculation formula.L'invention concerne un dispositif et un procédé permettant de calculer une valeur NDVI dans laquelle une erreur due à un changement de l'angle d'incidence/réflexion de la lumière du soleil est réduite. La présente invention comprend une unité de traitement de données recevant une image capturée par une caméra et calculant une valeur NDVI indiquant l'activité d'une installation par l'analyse de l'image d'entrée. L'unité de traitement de données sélectionne une pluralité de points d'échantillonnage à partir des pixels constitutifs de l'image d'entrée, calcule une formule de modèle d'approximation de distribution bidimensionnelle de point d'échantillonnage par approximation de la distribution bidimensionnelle de la valeur NDVI du point d'échantillonnage sélectionné et de l'angle d'incidence/réflexion de lumière du soleil, génère, en fonction de la formule de modèle d'approximation de distribution bi
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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