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Method of evaluating evenness of suplatast tosilate crystal, even crystal, and process for producing the same
专利权人:
发明人:
우시오 다카노리,나가이 게이코
申请号:
KR1020127027925
公开号:
KR1012106930000B1
申请日:
2005.07.13
申请国别(地区):
KR
年份:
2012
代理人:
摘要:
To provide a method for evaluating the uniformity of crystals of tosylic acid supply crystals and a crystal whose optical purity is uniform and stable, and its preparation method. In the method for evaluating the uniformity of tosylic acid supplast crystal, (a) adding a solvent to the tosylic acid supplast crystal and dissolving it in an amount of 3% or less, taking a part of the suspension supernatant obtained to obtain optical purity. Step of measuring, (b) Next, a solvent is added to the remaining suspension to dissolve the entire amount, and a part of the solution is taken to measure the optical purity, and the optical purity of the steps (a) and (b) is measured. A method for evaluating the uniformity of tosylic acid supplement crystals, characterized in that the contrast, and the tosylic acid supplement crystals excellent in uniformity and thermal stability, and a manufacturing method thereof.토실산 서플라타스트 결정의 균일성의 평가방법 및 광학순도가 균일하고 안정한 결정 및 그 제법의 제공. 토실산 서플라타스트 결정의 균일성을 평가하는 방법에 있어서, (a) 토실산 서플라타스트 결정에 용매를 첨가하여 그의 3% 이하의 양을 용해하고, 얻어지는 현탁 상청의 일부를 취하여 광학순도를 측정하는 공정, (b) 이어서, 나머지 현탁액에 용매를 첨가하여 전량을 용해하고, 그 용액의 일부를 취하여 광학순도를 측정하는 공정으로 되며, 상기 공정(a)와 공정(b)의 광학순도를 대비하는 것을 특징으로 하는 토실산 서플라타스트 결정의 균일성의 평가방법, 및 균일성 및 열안정성이 우수한 토실산 서플라타스트 결정 및 그의 제법.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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