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X-RAY PHASE-CONTRAST AND DARK-FIELD INFORMATION EXTRACTION WITH ELECTRIC FRINGE SCANNING AND/OR ACTIVE PIXEL PROCESSING
专利权人:
RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE
发明人:
WANG, Ge,CONG, Wenxiang,SHI, Zaifeng,PANG, Shuo
申请号:
USUS2016/043154
公开号:
WO2017/015381A1
申请日:
2016.07.20
申请国别(地区):
WO
年份:
2017
代理人:
摘要:
Novel and advantageous systems and methods for performing X-ray imaging by extracting X-ray phase-shift and/or dark-field information through a detector that has built-in G2 functionality are provided. Grating translation can be replaced by an electrical operation in the detection procedure, thereby eliminating the need for the analyzer grating and the typical mechanical stepping process.Linvention concerne de nouveaux systèmes et procédés avantageux pour exécuter une imagerie à rayons X par extraction dinformations de champ sombre et/ou de décalage de phase de rayons X à laide dun détecteur qui possède une fonctionnalité G2 intégrée. Une translation de réseau peut être remplacée par un fonctionnement électrique dans le processus de détection, ce qui permet déliminer le besoin de réseau danalyseur et de processus pas-à-pas mécanique typique.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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