< Topic > It is to offer the arrangement and method for 3 dimensional measurement of object ones.Solutions As for this invention, object ones (28) at least in regard to the measurement arrangement, and method for measuring 3 dimensions of part, as for that, the illuminant which possesses the continuous spectrum (10), multi focus illumination patterns (16) the device which is formed (14), the lens which possesses the chromatic aberration which in order image pickup to do the focus of illumination pattern on object ones is large (18), through the lens, detection unit in order to form the wave length spectrum of the focus which image pickup is done focus to also on object ones (40), and, also the focus and the detection device which image pickup are done focusThe spectrum - dispersive device which is arranged between (34, 36 and 33) it possesses.< Selective figure >【課題】 対象物の3次元測定のための配置および方法を提供することである。【解決手段】 本発明は、対象物(28)の少なくとも一部の3次元の測定のための測定配置、および、方法に関し、それは、連続スペクトルを有する光源(10)、多焦点照明パターン(16)を生成する装置(14)、対象物上の照明パターンの焦点を撮像するための大きい色収差を有するレンズ(18)、レンズを介して対象物上に共焦点的に撮像された焦点の波長スペクトルを生成するための検出ユニット(40)、および、共焦点的に撮像される焦点と検出装置との間に配置されたスペクトル-分散素子(34、36、33)を具備する。【選択図】
