Method for nanoparticle based highly sensitive multiple detection of gene mutation using Kelvin Probe Force Microscopy

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专利权人:

연세대학교 원주산학협력단

发明人:

이형빈,이상원,이원석,이규도,남기환,윤대성

申请号：

KR20160018283

公开号：

KR101731611(B1)

申请日:

2016.02.17

申请国别(地区):

韩国

年份:

2017

代理人:

摘要：

본 발명은 캘빈 프루브 현미경을 이용한 나노입자 기반의 고감도 다중 유전자 변이 검지방법에 관한 것으로서, 더욱 구체적으로는 프루브 DNA를 나노입자에 고정화 시킨 후 검지DNA와 혼성화(hybridization)시킨 합성물을 기판 위에 뿌리고 캘빈 프루브 현미경으로 측정된 표면전하(surface potential)로 유전자의 변이 여부를 나노 수준에서 식별하는 방법에 관한 것이다.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/