PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus capable of quickly imaging a high lateral resolution planar image of the fundus of the eye to be examined and imaging a desired position on the fundus.SOLUTION: An AOSLO apparatus for measuring aberration by a wavefront sensor 255 based on return light of beacon light (measuring light) 206-3 irradiating an object, includes a light source 201-3 for generating the measuring light 206-3 for measuring aberration, and a focus lens 235-16 for focusing the measuring light 206-3 on the object. A control PC 106 acquires, from a storage part, imaging parameters such as information that indicates the state of the focus lens 235-16 corresponding to identification information of the specific object. Based on the acquired imaging parameters, the control PC 106 controls the position of the focus lens 235-16 to irradiate the specific object with the measuring light 206-3.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 被検査物である眼底の高横分解能な平面画像を迅速に撮像し、眼底上の所望の位置を撮像することが可能となる装置を提供することを目的とする。【解決手段】 AOSLO装置においては、被検物に照射したビーコン光(測定光)206-3の戻り光に基づいて波面センサ255で収差を測定する。更に、収差を測定する測定光206-3を発生させるための光源201-3と、測定光206-3を被検物に合焦させるフォーカスレンズ235-16とを有する。制御PC106は特定の被検物の識別情報にそれぞれ対応するフォーカスレンズ235-16の状態を示す情報等の撮影パラメータを記憶部から取得する。そして、制御PC106は、取得された撮影パラメータに基づいて、当該特定の被検物に測定光206-3を照射するためにフォーカスレンズ235-16の位置を制御する。【選択図】 図2
