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Optical image measuring device
专利权人:
興和株式会社
发明人:
小林 直樹
申请号:
JP2014550162
公开号:
JPWO2014084139A1
申请日:
2013.11.22
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
The signal light is scanned by the signal light scanning means 40, and an optical path length adjusting means 66 for adjusting the optical path length of the reference light in synchronization with the signal light scanning is provided. The optical path length adjusting unit adjusts the optical path length of the reference light so that there is no difference between the optical path lengths of the signal light and the reference light generated by the bending of the target object in synchronization with the signal light scanning. In such a configuration, even when the target object is curved, a tomographic image like a flat target can be acquired, and a clear tomographic image can be obtained over the entire region.信号光が信号光走査手段40により走査され、その信号光走査に同期して参照光の光路長を調整する光路長調整手段66が設けられる。光路長調整手段は、信号光走査に同期して、対象物体の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整する。このような構成では、対象物体が湾曲している場合でも、平坦な対象物のような断層画像を取得することができ、全領域にわたって鮮明な断層画像を得ることができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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