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Messlehre sowie Perimplantärkit oder -System
专利权人:
NEUMEYER; STEFAN
发明人:
NEUMEYER, STEFAN,gleich Anmelder
申请号:
DE102011055723
公开号:
DE102011055723A1
申请日:
2011.11.25
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Multifunktionelle Messlehre für intraorale Diagnostik, mit einem Handgriff, einem ersten Sondenkopf an einem Ende des Handgriffs und einem zweiten Sondenkopf am anderen Ende des Handgriffs, wobei der erste Sondenkopf einen Sondenschaft mit Markierungen für eine Längenmessung jeweils bezogen auf ein freies Ende des Sondenschaftes und der zweite Sondenkopf wenigstens eine erste Skala zur Messung des Abstandes zweier benachbarter Zähne und/oder Implantate im Bereich einer Zahnlücke sowie wenigstens eine der ersten Skala zugeordnete zweite Skala zur Bestimmung eines dem Abstand entsprechenden Implantatdurchmessers aufweist.The gauge (1) has a handgrip (4) comprising two ends at which two probe heads (3, 5) are arranged, respectively. The first probe head comprises a probe shaft (2) with marks for linear measurement related to a free end of the probe shaft. The second probe head has a first scale for measuring distance of two adjacent teeth and/or implants in a region of a tooth space. A second scale is attached to the first scale for determination of implant diameter that corresponds to the distance. A plate-like probe tip (6) is formed at a free end of the first probe head. An independent claim is also included for a peri-implant kit or system.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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