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一种疮伤测量系统以及一种疮伤测量方法
- 专利权人:
- 浙江同花顺智能科技有限公司
- 发明人:
- 夏金萍,许彩云,孙红玲,沈成,金朝汇,谌明,金佳燕
- 申请号：
- CN202010065320.0
- 公开号：
- CN111297363A
- 申请日:
- 2020.20.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种疮伤测量系统,包括激光发射装置、摄像头以及处理器;激光发射装置,用于向目标疮伤口发射覆盖目标疮伤口的激光;摄像头连接处理器,摄像头,用于接收从目标疮伤口反射的激光以生成激光信号并将激光信号传输至处理器;获取目标疮伤口的疮伤口图像并将疮伤口图像发送至处理器;处理器,用于根据激光信号计算出目标疮伤口的距离参数;调用预先存储的深度学习模型,根据疮伤口图像生成目标疮伤口的图像参数;根据图像参数和距离参数计算目标疮伤口的体积参数。整个测量以及计算过程不需要通过医护人员手动测量,可以方便准确的测量疮伤口体积。本发明还提供了一种疮伤测量方法,同样具有上述有益效果。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
