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计测装置
- 专利权人:
- 发明人:
- 安藤贵真,今井俊辅,富永仁志
- 申请号：
- CN202180037507.2
- 公开号：
- CN115697208A
- 申请日:
- 2021.05.21
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2023
- 代理人:
- 摘要：
- 计测装置具备：第1光源，出射第1出射光；第2光源，出射第2出射光；漫射板；反射镜，使从由所述第1出射光及所述第2出射光构成的组中选择的至少一方的传播方向变化，从而使所述第1出射光及所述第2出射光向所述漫射板的一个区域汇集入射；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第1出射光的光点与所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第2出射光的光点之间的距离，比所述第1光源与所述第2光源之间的距离短。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
