光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法
- 专利权人:
- 株式会社理光
- 发明人:
- 石井稔浩,高桥阳一郎
- 申请号：
- CN201580060686.6
- 公开号：
- CN106999165B
- 申请日:
- 2015.29.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 提供一种光学传感器。所述光学传感器具有包含至少一个光发射装置的发射系统,所述至少一个光发射装置将光发射到对象上;以及检测系统,其检测已经由发射系统发射并且已经通过对象传播的光。所述光发射装置能够将具有不同波长的多个光束发射到对象的基本相同的位置上。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
