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Radiation imaging device and radiation imaging system
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
三浦 亮介,藤吉 健太郎
申请号:
JP2019019960
公开号:
JP2020127176A
申请日:
2019.02.06
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide an advantageous technique for obtaining an appropriate offset component with respect to the imaging condition.A means for detecting a radiation image is provided.Detection element for detecting incident radiationBased on the signal output from the sensing element during irradiation of radiationAn operation section for measuring an incident radiation dose andA radiation imaging apparatus comprisingThe operation sectionBefore irradiation of radiationEstimated from the set image informationDepending on the signal value the detected element outputs in one sampling during the irradiation of radiationDetermine the number of sampling components of the offset component of the detectorAn offset correction value is obtained from the offset component of the detected element sampled over the number of times of sampling.During radiation exposureBased on a correction value obtained by correcting the signal value output from the detection element in accordance with the offset correction valueThe incident radiation dose is measured.Diagram【課題】撮像条件に対して適切なオフセット成分を取得するのに有利な技術を提供する。【解決手段】放射線画像を取得するための検出部に配され、入射する放射線を検出する検出素子と、放射線の照射中に検出素子から出力される信号に基づいて、入射した放射線量を測定するための演算部と、を含む放射線撮像装置であって、演算部は、放射線の照射前に、設定された撮像情報から推定される、検出素子が放射線の照射中に1回のサンプリングで出力する信号値に応じて、検出素子のオフセット成分をサンプリングする回数を決定し、サンプリングする回数にわたってサンプリングされた検出素子のオフセット成分からオフセット補正値を取得し、放射線の照射中に、検出素子から出力される信号値をオフセット補正値に従って補正した補正値に基づいて、入射した放射線量を測定する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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