一种用于测量物质光学参数的漫射光子密度波系统
- 专利权人:
- 天津工业大学
- 发明人:
- 王慧泉,何鑫伟,缪竟鸿,王金海,赵喆
- 申请号：
- CN201710330033.6
- 公开号：
- CN106901699A
- 申请日:
- 2017.05.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明创造提供一种用于测量物质光学参数的漫射光子密度波系统，网络分析仪发出的高频信号进入T型偏置器，在叠加直流驱动信号后，经射频开关驱动激光器输出调制光信号，照射到待测物体，携带待测物体信息的输出光经光纤进入光电检测器，光信号转换成电信号后，返回到网络分析仪中，最终电脑端对数据进行分析和处理，得到物体的光学参数。本发明创造能够快速实现在高频信号领域测量组织的光学参数，且用辐射方程对得到的信息进行拟合处理，能够快速精确获得待测物体的吸收系数及约化散射系数。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
