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用于测量散射介质中的光学参数的设备
- 专利权人:
- 苏黎世大学
- 发明人:
- S·克莱泽,M·沃尔夫,D·奥斯托吉奇,N·纳赛里
- 申请号：
- CN201880074696.9
- 公开号：
- 申请日:
- 2018.19.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 一种分光光度测量设备(1),所述设备用于基于对通过扩散而传播通过散射介质(4)的光的衰减的测量来确定散射介质(4)中的光学参数。为了消除光被引导于所述介质(4)的表面(23)与所述设备(1)的接触表面(8)之间的中间光学层(25)中的有害影响,可以在接触表面(8)中形成大量的光学屏障(4),或者可以通过合适的装置(13)限制设备(1)发射或接收光的角度范围。利用这两个替代方法,可以抑制中间层(25)中的光传播,从而提高测量准确度。本发明对于构建具有改善精确度的血氧计(1)特别有利。本发明的另外的方面涉及用于改善设备(1)在弯曲表面(23)上的适用性的特征,所述弯曲表面比如为新生儿的强烈弯曲的头骨。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
