TDK CORPORATION;ＴＤＫ株式会社;KANAZAWA INSTITUTE OF TECHNOLOGY;学校法人金沢工業大学
发明人:
SHIBUYA Tomohiko,澁谷朝彦,ADACHI Yoshiaki,足立善昭
申请号：
JPJP2020/000444
公开号：
WO2020/145344A1
申请日:
2020.01.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要：
A magnetic field calibration device 1 used to calibrate a magnetism measurement device having a plurality of magnetism sensors, wherein the magnetic field calibration device 1 is provided with: a first holder 10 having a first holding surface S1； a second holder 20 having a second holding surface S2, the positional relationship of which to the first holding surface S1 is fixed； and magnetism generating parts M fixed to the first holding surface S1 and the second holding surface S2.Un dispositif d'étalonnage de champ magnétique 1 est utilisé pour étalonner un dispositif de mesure de magnétisme ayant une pluralité de capteurs de magnétisme, le dispositif d'étalonnage de champ magnétique 1 comprenant : un premier support 10 ayant une première surface de maintien S1 ； un second support 20 ayant une seconde surface de maintien S2, dont la relation de position par rapport à la première surface de maintien S1 est fixe ； et des parties de génération de magnétisme M fixées à La première surface de maintien S1 et à la seconde surface de maintien S2.磁場校正装置１は、複数の磁気センサを有する磁気計測装置のキャリブレーションに用いる磁場校正装置であって、第１保持面Ｓ１を有する第１保持具１０と、第１保持面Ｓ１との相対的な位置関係が固定された第２保持面Ｓ２を有する第２保持具２０と、第１保持面Ｓ１及び第２保持面Ｓ２に固定された磁気発生部Ｍとを備える。
