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Eye examination system
专利权人:
NIDEK CO LTD;株式会社ニデック
发明人:
滝井 通浩,TAKII MICHIHIRO
申请号:
JP2018206268
公开号:
JP2020069201A
申请日:
2018.11.01
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide an optometry system capable of easily confirming the position of the gaze of the eye to be examined and performing appropriate optometry.Projection of the target to the eyeAn optometric system for measuring optical properties of an eye to be examined;Acquisition means for acquiring the anterior segment image of the eye to be examined andBased on the anterior segment imageA detection means for detecting the position of a gaze gazing gaze at the targetBased on the position of the line of sightA judging means for judging a gaze state in which the eye to be examined gazes at the targetBased on the decision result of the judgment meansOutput means for outputting gaze information to indicate a gaze state and.Diagram【課題】 被検眼の視線の位置を容易に確認し、適切な検眼を行うことができる検眼システムを提供する。【解決手段】 被検眼に視標を投影し、被検眼の光学特性を測定するための検眼システムであって、被検眼の前眼部画像を取得する取得手段と、前眼部画像に基づいて、被検眼が視標を注視する視線の位置を検出する検出手段と、視線の位置に基づいて、被検眼が視標を注視する注視状態を判定する判定手段と、判定手段の判定結果に基づいて、注視状態を示すための注視情報を出力する出力手段と、を備える。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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