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Eye examination device, optometry program and optometry system
专利权人:
株式会社ニデック
发明人:
加納 徹哉
申请号:
JP2019067311
公开号:
JP2020162933A
申请日:
2019.03.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide an optometric apparatus, an optometry program and an optometry system capable of easily setting an environment suitable for inspection.Solution: an optometric apparatus for inspecting the eye to be examined, and an inspection means for inspecting the eye to be examined, a detecting means for detecting the operation of the test means for use of the inspection means, and a setting means for setting the inspection environment of the eye to be examined based on the detection result of the detecting means. Thus, the optimum inspection environment for the eye to be examined can be easily set.Diagram【課題】 検査に適した環境を容易に設定することができる検眼装置、検眼プログラム、及び検眼システムを提供する。【解決手段】 被検眼を検査する検眼装置であって、被検眼を検査するための検査手段と、検査手段を用いるための検査手段に対する動作を検出する検出手段と、検出手段の検出結果に基づいて、被検眼の検査環境を設定するための設定手段と、を備える。これによって、被検眼に対する最適な検査環境を容易に設定することができる。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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